Mīkini ʻoki uea daimana Silicon carbide 4/6/8/12 ʻīniha SiC ingot hana hana
Kumu hana:
1. Hoʻopaʻa ʻana i ka Ingot: Hoʻopaʻa ʻia ka ingot SiC (4H/6H-SiC) ma ka paepae ʻoki ma o ka mea paʻa e hōʻoia i ka pololei o ke kūlana (± 0.02mm).
2. Ka neʻe ʻana o ka laina daimana: hoʻokele ʻia ka laina daimana (nā ʻāpana daimana i hoʻopili ʻia ma luna o ka ʻili) e ka ʻōnaehana huila alakaʻi no ka holo wikiwiki (ka wikiwiki o ka laina 10 ~ 30m / s).
3. ʻOki ʻana i ka hānai: hānai ʻia ka ingot ma ke kuhikuhi i hoʻonohonoho ʻia, a ʻoki ʻia ka laina daimana i ka manawa like me nā laina like ʻole (100 ~ 500 laina) e hana i nā wafers he nui.
4. Hoʻomaʻalili a me ka wehe ʻana i nā ʻāpana: E pīpī i ka mea hoʻomaʻalili (wai deionized + nā mea hoʻohui) ma kahi ʻoki e hōʻemi i ka pōʻino wela a wehe i nā ʻāpana.
Nā palena koʻikoʻi:
1. Ka wikiwiki ʻoki: 0.2 ~ 1.0mm/min (ma muli o ke kuhikuhi kristal a me ka mānoanoa o SiC).
2. Ka laina ʻana: 20 ~ 50N (kiʻekiʻe loa maʻalahi e uhaʻi i ka laina, haʻahaʻa loa e pili ana i ka pololei o ka ʻoki ʻana).
3. Mānoanoa o ka wafer: maʻamau 350 ~ 500μm, hiki i ka wafer ke hiki i 100μm.
Nā hiʻohiʻona nui:
(1) Ka pololei o ka ʻoki ʻana
Ka hoʻomanawanui mānoanoa: ±5μm (@350μm wafer), ʻoi aku ka maikaʻi ma mua o ka ʻoki ʻana i ka mortar maʻamau (±20μm).
ʻO ka ʻōʻili: Ra<0.5μm (ʻaʻohe wili hou e pono ai e hōʻemi i ka nui o ka hana ma hope).
Warpage: <10μm (e hōʻemi i ka paʻakikī o ka wili ʻana ma hope).
(2) Ka pono o ka hana ʻana
ʻOki ʻana i nā laina he nui: ʻoki ʻana i nā ʻāpana 100 ~ 500 i ka manawa hoʻokahi, e hoʻonui ana i ka hiki ke hana i 3 ~ 5 mau manawa (vs. ʻOki laina hoʻokahi).
Ola laina: Hiki i ka laina daimana ke ʻoki i 100 ~ 300km SiC (ma muli o ka paʻakikī ingot a me ka hoʻonui ʻana i ke kaʻina hana).
(3) Ka hana ʻino haʻahaʻa
Ka haki ʻana o ka lihi: <15μm (ʻoki kuʻuna> 50μm), hoʻomaikaʻi i ka hua wafer.
Papa hōʻino o lalo o ka ʻilikai: <5μm (e hōʻemi i ka wehe ʻana o ka polishing).
(4) Ka palekana o ke kaiapuni a me ka hoʻokele waiwai
ʻAʻohe haumia o ka mortar: Ua hoʻemi ʻia ke kumukūʻai hoʻolei wai ʻōpala i hoʻohālikelike ʻia me ka ʻoki ʻana i ka mortar.
Ka hoʻohana ʻana i nā mea: ʻO ka ʻoki ʻana i ka pohō <100μm/ mea ʻoki, e mālama ana i nā mea maka SiC.
Ka hopena ʻoki:
1. ʻAno Wafer: ʻaʻohe māwae macroscopic ma ka ʻili, kakaikahi nā kīnā microscopic (hoʻonui dislocation hiki ke hoʻokele). Hiki ke komo pololei i ka loulou polishing ʻino, e hoʻopōkole i ke kahe o ke kaʻina hana.
2. Kūlike: ʻo ka ʻokoʻa mānoanoa o ka wafer i loko o ka pūʻulu he <± 3%, kūpono no ka hana hana aunoa.
3. Hoʻohana: Kākoʻo i ka ʻoki ʻana i ka ingot 4H/6H-SiC, kūlike me ke ʻano conductive/semi-insulated.
Nā kikoʻī loea:
| Nā kikoʻī | Nā kikoʻī |
| Nā Ana (L × W × H) | 2500x2300x2500 a hoʻopilikino paha |
| Ka laulā nui o ka mea hana | 4, 6, 8, 10, 12 ʻīniha o ka silicon carbide |
| ʻO ka ʻōʻili | Ra≤0.3u |
| ʻO ka wikiwiki ʻoki awelika | 0.3mm/min |
| Kaumaha | 5.5t |
| Nā ʻanuʻu hoʻonohonoho hana ʻoki | ≤30 mau ʻanuʻu |
| Walaʻau o nā lako | ≤80 dB |
| Hoʻopaʻa uea kila | 0~110N (0.25 ka wili uea he 45N) |
| Ka wikiwiki o ke uea kila | 0~30m/S |
| Mana holoʻokoʻa | 50kw |
| Anawaena uea daimana | ≥0.18mm |
| Ka palahalaha o ka hopena | ≤0.05mm |
| Ka wikiwiki o ka ʻoki ʻana a me ka haki ʻana | ≤1% (koe wale nō nā kumu kanaka, nā mea silicon, laina, mālama a me nā kumu ʻē aʻe) |
Nā lawelawe XKH:
Hāʻawi ʻo XKH i ka lawelawe hana holoʻokoʻa o ka mīkini ʻoki uea daimana silicon carbide, me ke koho ʻana i nā lako (ke anawaena uea/ka wikiwiki o ke uea), ka hoʻomohala ʻana i ke kaʻina hana (ka hoʻonui ʻana i nā palena ʻoki), ka hoʻolako ʻana i nā mea hoʻopau (uea daimana, huila alakaʻi) a me ke kākoʻo ma hope o ke kūʻai aku (mālama ʻana i nā lako, ka nānā ʻana i ka maikaʻi o ka ʻoki ʻana), e kōkua i nā mea kūʻai aku e loaʻa ka hua kiʻekiʻe (>95%), ka hana nui ʻana o ka wafer SiC haʻahaʻa. Hāʻawi pū ia i nā hoʻonui i hana ʻia (e like me ka ʻoki lahilahi loa, ka hoʻouka ʻana a me ka wehe ʻana i ka uea) me ka manawa alakaʻi 4-8 pule.
Kiʻikuhi kikoʻī





